SRM1976c X射线粉末标准品使用规范

SRM1976c  X射线粉末标准品由烧结氧化铝圆盘组成，用于校准 X 射线粉末衍射设备的线位置和强度作为 2θ 角的函数。 SRM 的固体形式消除了由样品加载过程引入的强度测量中的任何可变性。 SRM 1976c 的一个单元由一个直径约为 25.6 毫米、厚度为 2.2 毫米的烧结氧化铝圆盘组成。

典型应用场景

 仪器校准：SRM1976c  X射线粉末标准品作为 XRD 设备的基准校准物质，可实现 2θ 角峰位精度校准（如布鲁克 D8 ADVANCE 系列依赖其实现≤0.01°2θ 的峰位精度保证）。

 性能验证：适用于 Rigaku Miniflex 等带自动进样器的 XRD 系统，用于质量控制、方法验证和仪器性能长期监控。

 数据校正：可用于获取仪器轮廓函数（IPF）近似值，为衍射峰形分析、微观结构计算提供校正依据。 

使用与储存要求 

1. 使用规范 

安装时可沿表面法线任意方向摆放，轴对称纹理设计确保不同安装角度下的测量一致性。测量过程中需考虑偏振影响，建议结合设备配套软件进行参数修正。 

2. 储存条件 

SRM1976c  X射线粉末标准品无需特殊低温环境，在常规实验室环境温度、干燥避光条件下储存即可。避免圆盘表面划伤、污染或物理损坏，否则将导致认证失效；未发现实验室常规使用下的衍射性能退化现象。

3. 认证有效性 

在符合储存和使用规范的前提下，认证结果在规定测量不确定度内无限期有效。

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